本文还建议了一种新的B 方法改进的方案以克服方法B 的一些不足之处。这种新方法是首选的测试方法，因为其测试结果保持了和方法B 的一致性，并且给用户提供了更多的灵活性，从而可以测试由各种不同的，包括SFF(微型插头)在内的光缆连接器所构成的光缆链路。本文还详细说明了改进的B 方法所具有的测试方法简单，减少可能的错误等优点。
方法A
方法A 是用来测试这种光缆链路，其全部的衰减主要是由光缆本身造成的，而不包括连接器的损耗。这通常是电信部门的网络情况。方法A 使用两条用户连接光缆和一个连接适配器连接至被测的光缆链路(参见图1)。两条连接光缆和一个连接适配器作为参考值在测试中排除出去。测试结果包括了被测光缆链路的损耗以及一个连接器的损耗(注意图2 中的蓝色部分)。
这种方法一直是电信部门测试长距离光缆链路的有效的方法，而对室内光缆链路测试来说其精度不足。因为网络实际工作在有损耗的光缆以及两端的连接器。方法A 在测试光功率损耗时打了折扣，因为它只包括了一个连接头。对长距离光缆链路来说，这不是问题，因为损耗的主要贡献是光缆本身而不是连接器。然而对室内的应用来说，光缆的长度非常短，其本身的损耗是非常小的。损耗的主要问题是光缆链路两端的连接器。光缆链路的损耗测试随着应用的要求越来越严格，例如千兆以太网要求测试整个链路的损耗。这就是为什么重新的方法B。
方法B
方法B 是用来测试光缆链路，其连接器的损耗是整个损耗的重要部分。这就是室内光缆的例子。方法B 的参考设置步骤使用一条连接光缆测试每条光缆链路(参见图3)。(说明：该图是一个双向测试仪同时测试两条光缆的情况)。
因为只有一条连接光缆(每个链路)作为参考部分，测试结果包括被测光缆本身的损耗以及两端的连接器(参见图4 的蓝色部分)。从技术角度讲，它还包括了额外的连接光缆的损耗，但是其长度非常短，损耗可以忽略不计。对室内光缆网络，这种方法提供了精确的光缆链路测试，因为它包括了光缆本身以及电缆两端的连接器。
然而，当使用方法B 时，要知道其不足之处：
1、当从参考设置转换至测试设置时，需要将测试仪一端的连接光缆断开。非常重要的是千万不要断开输出或光源一端。如果断开该连接，原来设置的参考值就丢失了，不重新进行参考设置就会严重影响测试的结果。不幸的是，经常有人轻易地断开源(输出)端而不是断开测试(输入)端。
2、虽然必须从测试仪测试(输入)端断开连接电缆，仍然需要非常小心，避免接头出受到污染或检测器受到损坏。
3、为了测试发送和接收在同一连接器的SFF 连接器，你必须从源(输出)端断开，从而违反了正确的参考和测试步骤。
4、使用方法B 要求你的测试仪连接器必须和被测光缆的连接器相同。
下面要介绍的是一种新的测试方法，它是模式B 的改进，但是它不仅提供了同样的结果而且保证了和测试标准的一致性，同时克服了上面列出的各种不足。
改进的方法B
方法B 的简单改进使得我们能够保持原来的精度(每次测量都包括光缆以及两端的接头)但是避免了主要的缺陷。这种改进方法的参考步骤是使用两条连接光缆和一个连接适配器对每条被测光缆完成的(参见图5)。然而，测试的步骤是新的，参见图6 的说明。
测试步骤包括了额外的带连接器的一小短测试跳线，这样测试的结果和方法B 获得的结果将不一样。就象方法B 一样，结果包括光缆损坏以及两端的连接器(注意图6 的蓝色部分)。两条连接光缆以及每条链路的连接器从参考设置中排除出去。
保持测试的一致性
改进的方法B 比原来的方法B 提供了几个关键的好处，并且保持了其一致性：
1、改进的方法B 所得到的损坏测量结果和ANSI/TIA/EIA-526-14A 中的方法B 是一 致的。根据方法B，可以正确地测量链路的损坏，测试的路径比设置参考路径时必须有额外的两个适配器。本文所描述的测试步骤刚好符合这种要求。使用这种方法测量的损坏将是链路中光缆的损耗以及链路两端连接器的损耗。该损耗值正好是网络实际硬件应用中所遇到的值。
2、改进方法B 使得可以使用不同类型的连接光缆连接测试仪和被测光缆链路。这就可以对使用不同类型的连接器所组成的光缆链路进行一致的测试，包括那些使用微型连接器(SFF)的光缆链路。
改进的方法B 使得不需要在测试仪器端断开连接光缆，从而减少了可能由于重新插入所导致的污染误差或损坏测试仪器的光接口。
解决了测试SFF 连接器的复杂性
单一的光源和光功率表可以有效地测试包含单一光缆的光缆链路，而使用单一电缆测试仪测试双光缆链路比较笨拙且容易出错。双光缆测试仪是测试双连接器最佳的方法，所以是测试SFF 所推荐的方法。因为光缆链路测试的需求持续增长，新安装的室内光缆需要新的测试仪。而方法B 是首选的方法，并且在ANSI/TIA/EIA-568-A 标准中进行了规定。而使用额外的测试跳线的改进方法也是首选的，因为它提供了和方法B 一致的测试结果，而又提供了更大的灵活性来测试不同连接器的光缆链路。
