WDM系统测试及仪表

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1、概述

——随着国内多条干线WDM系统的开通,WDM系统测试和维护成为大家面临的一个实际问题,WDM系统是一种光域的模拟系统,可看作平行许多光通路,每个采用稍微不同的光波长,共享一种传输媒质——光纤的系统。它与SDH系统在测试参数和方法上有较大差异,除了常规数字系统的误码和抖动外,模拟量特别是光域的模拟量测量大大增加,例如光通道功率、中心波长、串音、光信噪比等。另外WDM仪表,特别是光谱分析仪、多波长计的应用也有一些新参数。

2、WDM系统中测试的物理量

——在常规SDH系统中,主要是进行数字信号的性能测量,如误码、抖动性能等,监测的模拟量基本上限制在发送机的发送光功率和接收光功率等。而在WDM系统中,需要测试的模拟量就大大增加,如光信号波长、发送光功率、接收光功率和信号的光信噪比等,对光信号波长、光信噪比和串音的测试是WDM系统所特有的,而且在多个测试点还需要进行重复测试。WDM系统增加的主要测试参数有:

——波长中心频率和波长间隔:测量每个通路波长的精确值,以确定DFB激光器的漂移,保证相邻波长不发生串扰。

——光信噪比:确定光信号的传输质量,噪声的测量必须基于通路之间的噪声电平。

——串音:由于波分复用器/解复用器不完善带来的串扰,确定器件带来的通路间相互干扰。

——功率:各参考点合路的总功率、各路的功率。

下面分别进行具体介绍,而对于与常规SDH系统类似或可参照的测试量则不再赘述。

2.1  通路中心频率和中心频率偏移

——WDM系统的一个重要特点是在光波分复用器处输入的信号均为固定波长的光信号,各个通路的信号波长不同,而且对中心频率偏移有严格规定,通路中心频率偏移定义为通路实际的中心频率与通路中心频率标称值的差值。如对于8×2.5Gb/s WDM系统,通路间隔选择200GHz,到寿命终了时的波长偏移不大于±20GHz。理想情况下,光信号的脉冲宽度应无限接近于0,但实际产生的脉冲都有一定的宽度,相邻两个通路如果波长偏移过大,就会造成通路间的串扰过大,即一个通路的脉冲边带串到另一个通路的脉冲边带上,使被串通路的信号光特性和功率等发生变化,造成系统OSNR下降,产生误码影响传输性能,因此通路中心频率成为WDM系统的一个重要的测量参数。通路中心频率定义为在该参考点测得的光信号的实际中心频率,在多个参考点都需要逐通路地进行测试。

——通路间隔指相邻波长间的频率差别(或波长差异),我国规范的WDM系统是等间距的系统。对于8×2.5Gb/s WDM系统,通道间隔为200GHz(1.6nm),而对于16×2.5Gb/s WDM系统,通道间隔为100GHz(0.8nm),相邻两波长中心频率之差就为通路间隔。

2.2  光信噪比(OSNR)

光放大器是WDM系统的一个重要组成部分。EDFA在1545~1560nm波长范围的增益较平坦,EDFA输出的放大信号中有ASE噪声,即信号是叠加在ASE噪声上的,因此单纯测量每通路信号的光功率并不能完全反映系统的工作情况,有可能信号光功率很高,但ASE噪声也与它相当,实际上信号的劣化已很明显,但光功率反映不出来,所以在WDM系统中引入了光信噪比的概念。每通路信号的光信噪比定义为通路内信号功率与噪声功率的比值,S与N均在光有效带宽Δv内测

量。光信噪比的定义是在Δv=0.1nm带宽内光信号功率和噪声功率的比值。光信号的功率一般取峰峰值,而噪声的功率一般取两相邻通路的中间点的功率电平。光信噪比是一个十分重要的参数,对估算和测量系统的误码性能和实际工程设计和维护有着十分重要的意义。

——OSNR在多个参考点都需要逐通路地进行测试,如图1所示,在图中的参考点MPI-S、R’、S'、MPI-R都需要测量每个通路的OSNR,监测其是否与系统指标相符。

2.3  光放大器和波分复用器件

——对光放大器需要进行测试的项目较多,主要有如下指标:

——输入功率范围;

——输出功率范围;

——工作带宽;

——小信号增益;

——饱和输出功率;

 

作者:张成良 张海懿   来源:通信世界网
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