4G测试技术挑战,共创LTE时代未来

——第九届IMCA 国际高峰论坛暨2013 TD-LTE测量测试核心技术大会完美落幕

现场图片:2013 TD-LTE测量测试核心技术大会现场

 

 

     2013年12月27日下午,第九届IMCA 国际仪器仪表与测控自动化高峰论坛暨“2013 TD-LTE测量测试核心技术大会”,在深圳马可孛罗好日子酒店举办并圆满成功!迎接4G时代LET测量测试带来的变革和挑战,LTE将为测量测试产业链带来前所未有的发展机遇。此届测量测试业界翘楚聚焦的2013 TD-LTE测量测试核心技术大会,以“4G时代,共创测试未来”为主题成功打造了一个高水准的高峰论坛。

 

     本次大会是由深圳市科学技术协会、广东省仪器仪表学会、深圳市仪器仪表学会等单位主办,同时邀请了北京邮电大学、工业和信息化部电信研究院泰尔实验室、中兴通信学院的资深学者与专家,与来自测量测试核心企业安捷伦、安立、大唐联仪科技、北京中创信测科技、福禄克网络等测试仪器仪表厂商技术精英进行了精彩主题演讲,现场参会观众积极踊跃,来自芯片、终端、应用软件、系统设备厂商以及研究机构等近300余位代表出席会议,并就共同关注的TD-LTE测试技术发展现状及未来趋势展开交流,现场气氛热烈并圆满成功落幕。

 

     当天出席大会的特邀嘉宾是:深圳市科技协会孙楠处长、广东省仪器仪表学会秘书长袁鸿教授、深圳市仪器仪表学会饶陆华会长、中国移动通信集团广东有限公司深圳分公司黄智瀛副总经理、中国电信深圳分公司网络发展部黎冠宇副总经理、中国联通深圳分公司一站式支撑中心行业总监梁建军、深圳新闻网魏俊杰总工程师、深圳市通信与互联网协会刘玉彤秘书长、深圳市仪器仪表学会秘书长邵火等。

 

   

大会由深圳市仪器仪表学会樊宽林副会长和深圳市仪器仪表学会向天明副会长主持。首先由深圳市科技协会孙楠处长、广东省仪器仪表学会秘书长袁鸿教授致辞,在致辞中,孙楠处长高度赞扬了在一年一度举办的IMCA国际高峰论坛行业盛会,高峰论坛的每一届成功举办,精彩纷呈的学术报告,专家、厂商汇聚一堂,对于当前推动测试测量产业的发展,为关注测试测量技术发展的厂商提供一个互相学习、交流的平台,也为提升测试测量企业的核心竞争力起到了积极的促进作用。

共同聚焦:LTE测试技术前沿创新热点  

本次大会在特邀嘉宾致辞后,由8位主讲嘉宾先后进行了技术发表,他们分别由来自于北京邮电大学研究生院常务副院长(教授、博士生导师)王文博主讲:《未来移动通信网络中终端直通技术发展与应用》、工业和信息化部电信研究院泰尔实验室通信计量部副主任周峰主讲:《TD-LTE相关的数字调制参量计量测试研究进展》、中兴通信学院LTE无线技术资深专家刘江宁主讲:《融合组网LTE发展新动力》、安捷伦科技有限公司无线技术支持高级工程师李伟铭主讲:《无线终端的产线测试综合解决方案》、安立通讯科技(上海)有限公司付汉华高级工程师主讲:《安立公司LTE终端测试解决方案》、大唐联仪科技有限公司售前技术支持总监沈斌主讲:《大唐联仪LTE终端研发及生产测试解决方案》、北京中创信测科技股份有限公司有限公司产品与解决方案部经理张鹏主讲:《AirGazar H2000--LTE现场测试解决方案》、福禄克网络有限公司网络资深工程师韩磊主讲:《基于LTE网络的应用性能测试解决方案》。

这些学者、专家的主题演讲,荟萃了通信测试测量最精华的新技术,从技术热点和创新课题的测试测量产业的各个方面、测试范围,如何解决LTE端到端全覆盖测试,如何成功实现终端设备产线测试仪器的高速化、模块化和通用化,以测试技术作为验证技术和产品进行了精彩地解析,精彩纷呈,获得了观众热烈的掌声和欢迎。而每当在学者或专家的演讲结束后,都在现场与观众进行了问答式的互动交流,解疑答惑。除了主题演讲之外,在大会现场也由北京中创信测、福禄克网络公司展示了LTE产品与解决方案。

在大会期间,主办方分别邀请多位主讲嘉宾,在现场为观众抽出了一、二、三等奖,并颁发了奖品。

 

 

现场图片:大会专家学者与演讲嘉宾

 

 

现场图片:参会观众积极踊跃

 

 

现场图片:大会演讲嘉宾

 

 

现场图片:参会观众


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